株式会社アールデック
ホール効果測定装置

Van der Pauw法を使った抵抗率・モビリティ・キャリア濃度の自動測定が可能。
サンプル交換も簡単に行えます。
0.5Tタイプ(永久磁石、電磁石)
1.4Tタイプ(電磁石)
4ポート端子付きチャンバー

構成機器・例 (80Kまで冷却時)
・ホール効果測定器 H5000
・温度コントローラ K2000
・冷却加熱ステージ
・ホール用チャンバ
・リバーシブルフィルタ
・窒素ガスボンベ
・ボンベスタンド
・レギュレータ
・真空配管部品
・Windows XP ,Windows 7, Windows 8対応ホール効果測定ソフトウェア
・真空ポンプ
・真空計
・パソコン、プリンタ



仕様
試料厚み
ばね式プローブ間隔
最大試料重量

抵抗率測定範囲
測定キャリア濃度
測定キャリア移動度
印加磁場
0.001 ~ 2000 micrometer
0.1インチ(2.25mm)、0.2インチ(5mm)、0.3インチ(10.5mm)
5g以下

10-4 Ohm*cm~1013 Ohm*cm(サンプルの厚みによる)
103 cm-3 ~1019 cm-3(サンプルの厚みによる)
1cm2/volt*sec ~ 107 cm2/volt*sec (磁場強度による)
・永久磁石 0.5テスラ(5000ガウス)
・電磁石 0.5テスラ(5000ガウス)、1.4テスラ(14000ガウス)
温度範囲(下記よりご選択下さい。)
・室温
・80K ~ 580K
・80K ~ 730K
・300K ~ 730K

   
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