株式会社アールデック




新素材デバイス開発・評価用 電子計測システム
詳細はイメージをクリック



■半導体デバイス特性測定システム
TFT・有機EL・FETなどのI-V特性測定に!

カーブトレーサや半導体パラメーターアナライザの機能を低価格で実現します。






■微少抵抗測定システム

10-4Ω以下の導電性薄膜デバイスなどの測定に!

新素材の電気特性の評価、接触抵抗の測定などが簡単に行えます。






■超高抵抗測定システム

1016Ωまでの高絶縁膜デバイスなどの測定に!

幅広い電圧レンジでリーク電流測定、マイグレーション試験に対応します。






■超高電圧印加測定システム

最大2kV印加、1pA (代表値)の電流測定が可能!

カーブトレーサでは測定できないパワーデバイスの特性評価(アバランシェ電流測定)が、nA以下の精度で測定可能です。






■太陽電池評価システム

シリコン太陽電池や新素材太陽電池の特性評価に!

シリコン太陽電池だけでなく、色素増感太陽電池などの新素材対応電池の特性評価が高精度で簡単に行えます。







■抵抗率計シリーズ

低抵抗・抵抗率計 ロレスターGP
高抵抗・抵抗率計 ハイレスターUP
Copyright(c)1988-2016 R-DEC Co.,Ltd. All Rights Reserved.