株式会社アールデック



Rotated Tapping AFM用プローブ NEW RTESP/RTESPAシリーズ

チップが180°回転した形状により、チップとサンプル間のアングルが対称になります。
スキャン方向による形状の誤差が少なくなるために、凹凸の大きな表面の測定に適しています。





Tapping AFM用プローブNCHVシリーズ

長年、標準的ラフネス測定に使用されてきた実績の高いSi単結晶製プローブです。





Si/SiNハイブリッド AFM用プローブSNL-10

軟かいバネ定数のシリコンナイトライド製レバー上に、曲率半径の小さなSiプローブをマウントさせた新型プローブです。
生体試料等の柔らかい試料の測定に適しています。





ハイアスペクト用FIB加工AFMプローブ FIB1-100, FIB2-100

先端をFIBで鋭角化したハイアスペクト対応プローブです。半導体等のトレンチ構造の計測に適しています。





※そのほか多数のプローブを取り揃えています。詳しくはこちらをご覧ください。




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