高速・高分解能AFM Dimension FastScan
メーカー名：ブルカージャパン株式会社, ナノ表面計測事業部製品
製品情報
概要
分解能やフォースコントロールを損なうことなく、非常に高速なイメージングスピードを達成した初めてのAFMです。
Dimension Icon® AFMシステムをベースとし、チップスキャン方式を採用により大口径から小さなサイズまでサンプルの大きさ・重量に制限されません。
大気中、液中ともに測定ができるため、高性能AFMで得られる高分解能イメージが1台のシステムで得られます。サンプル上で測定個所を探すときは125Hz以上の高速で測定可能で、大気中、液中にかかわらず数秒で1イメージが取得できます。
特長
- 高速・高分解能
サンプルサイズに依存しない、いつでも最高の解像度を提供します。 - ナノスケールダイナミクス
空気中または流体中の動的挙動を直接可視化するための究極のチップスキャン速度と安定性を提供。
- セットアップ・データ収集・分析
システムの操作が驚くほど簡単になり、操作にかかる時間のロスを低減し研究に貢献。