表面分析関連
RHEED
真空対応表面分析装置
- 超高真空表面構造分析装置 567DAG
- 超高真空X線光電子分光装置 DA0084
- 角度分解型高分解能電子分光装置(ARPES装置)
- 真空対応ウェハーマッピングFTIR測定装置 760MNK
- 超高真空対応トランスファーベッセル ATV-100/200
超高真空高精度冷却試料マニピュレータ i-GONIOシリーズ
- 超高真空高精度冷却試料マニピュレータ i-GONIOシリーズ
- i-GONIOシリーズ/リアルシャフト1or2段チルトステージType
- i-GONIOシリーズ/リアルシャフト面内回転Type
- i-GONIOシリーズ/バーチャルシャフト1軸Type
- i-GONIOシリーズ/バーチャルシャフト2軸Type
その他
- 表面プラズモン共鳴分光装置 JEL-001
- FT-IR分光計 ALPHAⅡ
- 顕微FT-IR LUMOS Ⅱ
- 高性能大型試料用AFM Dimension Icon
- 高速・高分解能AFM Dimension FastScan
- AFM用プローブ
- 汎用大型試料用AFM Dimension Edge
- 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-100
- 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-200
- 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡 ContourX-500
- 触針式プロファイリングシステム DektakXT-E, S, A
- 大型ステージ対応 触針式プロファイリングシステム DektakXTL
- 多機能摩擦摩耗試験機 UMT TriboLab