高性能大型試料用AFM Dimension Icon
メーカー名：ブルカージャパン株式会社, ナノ表面計測事業部製品
製品情報
概要
大型試料測定、高分解能、操作性、多機能、拡張性のすべてのニーズに合致し、従来製品を遙かに凌駕したAFM（原子間力顕微鏡）です。
超低ノイズ・低ドリフトのクローズドループスキャナー搭載。更に新技術のPeakForce Tapping技術によりワンプッシュオペレーションを可能にしたScanAsyst機能及び定量的機械特性マッピング機能のPeakForce QNMを搭載可能にした画期的AFMです。
特長
- チップスキャナー
オープンループ・ノイズ・レベル、ノイズ・フロアの低減、200pm以下のドリフト・レートで、業界唯一の大型試料測定での高分解能を実現。 - 簡単操作
シンプルなセットアップ、直感的なワークフロー、そして論文発表レベルの高品質な測定データを最速で提供。 - オープンアクセスプラットフォーム
様々な実験、モード、技術、半自動測定に対応