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製品紹介

高性能大型試料用AFM Dimension Icon

製品情報

概要

大型試料測定、高分解能、操作性、多機能、拡張性のすべてのニーズに合致し、従来製品を遙かに凌駕したAFM(原子間力顕微鏡)です。
超低ノイズ・低ドリフトのクローズドループスキャナー搭載。更に新技術のPeakForce Tapping技術によりワンプッシュオペレーションを可能にしたScanAsyst機能及び定量的機械特性マッピング機能のPeakForce QNMを搭載可能にした画期的AFMです。

特長
  • チップスキャナー
    オープンループ・ノイズ・レベル、ノイズ・フロアの低減、200pm以下のドリフト・レートで、業界唯一の大型試料測定での高分解能を実現。
  • 簡単操作
    シンプルなセットアップ、直感的なワークフロー、そして論文発表レベルの高品質な測定データを最速で提供。
  • オープンアクセスプラットフォーム
    様々な実験、モード、技術、半自動測定に対応

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