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ブルカージャパン株式会社

オプティクス事業部製品

• FT-IR分光計　ALPHAⅡ
• 顕微FT-IR　LUMOS Ⅱ

ナノ表面計測事業部製品

• 高性能大型試料用AFM　Dimension Icon
• 高速・高分解能AFM　Dimension FastScan
• AFM用プローブ
• 汎用大型試料用AFM　Dimension Edge
• 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡　ContourX-100
• 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡　ContourX-200
• 非接触3次元白色光干渉型光学顕微鏡　ContourX-500
• 触針式プロファイリングシステム DektakXT-E, S, A
• 大型ステージ対応 触針式プロファイリングシステム　DektakXTL
• 多機能摩擦摩耗試験機 UMT TriboLab